本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应, 器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法, 及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章, 第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识 ; 第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法 ; 第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应 ; 第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估 ; 第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。